探针测试(Probe)设备

          


    Probe探针台

     Probe探针台主要应用于半导体行业及光电行业的测试。

    广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨

    在确保质量的及可靠性,并缩减研发期间和器件制造工

    艺的成本。

       应用范围:

    1.利用针(软针硬针pico probe针)测试芯片pad信号

       对FIB 引出的十字pad进行电性测量。

    2.液晶法-漏电分析,利用液晶感测到IC 漏电出分子排列

       重 组,在显微镜下呈现出不同于其他区域的斑状影像,

       找寻实际分析中 困扰设计人员的漏电区域(超过10mA

       之故障点)。

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