Apreo

Apreo

功能最为丰富的高性能 SEM

Apreo 革命性的复合透镜设计结合了静

和磁浸没技术,可产生前所未有的高

分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为

研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器

件的理想台,并且不会降低磁性样品

性能。


Apreo 受益于独特的透镜内背散射探测

种探测提供卓越的材料对比度,即使

倾斜、工作距离很短或用于敏感样品

时也不例外。新型复合透镜通过能量过

滤进一步提高了对比度并增加了用于绝

缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模

式现在的最大样品仓压力为 500 Pa,可

以对要求最苛的绝缘体进行成像。


Apreo 的材料科学应用

新的 Apreo SEM 可对纳米颗粒、金属、复合材料

等多种材料进行检测,并且整合了创新功能,可提

供更好的分辨率、对比度和易用性。


独有的复合末级透镜可在任何样品(即使在倾斜时或

进行地形测量时)上提供优异的分辨率(1 kV 电压下

为 1.0 nm),而无需进行电子束减速。用极大的背

散射探测 - 始终保证良好的材料对比度,即使以低电

压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品

进行 TV 速率成像时也不例外。无比灵活的探测器 - 可

将各个探测器部分提供的信息相结合,获得至关重要

的对比度或信号强度。





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