Probet探针测试

   

       Probe探针台主要应用于半导体行业以及光电行业的测试。广泛应

用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,

并缩减研发时间和器件制造工艺的成本


应用范围:
        1.利用探针(软针、硬针、pico probe针)测试芯片pad信号

           对fib 引出的十字pad进行电性测量。
        2.液晶发-漏电分析,利用夜景感测到IC漏电出分子排列重组,

           在显微镜下呈现出不同于其他区域的斑状影像,找寻在实

           分析中设计人员困扰的漏电区域(超过10mA之故障点)



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