Latch up

Latch up(闩锁效应)

 

  和ESD对集成电路造成破坏类似,CMOS构造的集成电路元件,因杂讯等干扰使电源与GND间短路,也会造成大电流EOS, 从而使得集成电路元件破坏。这种现象称为Latch Up。

    和ESD测试的要求一样,Latch Up也是以半导体行业认定的标准和规格进行试验。

测试HBM/MM的ESD Tester都可以兼容测试Latch Up


 

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