I-V曲线测试仪


 

                                                                                                                                        

自动曲线追踪仪(Auto Curve Tracer)提供DC半导体电子组件及导体组件特性测量、电性故障分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)及曲线绘图(IV-CURVE)

应用范围:

1.测量封装后芯片的I/V曲线,可以通过好坏样品的曲线比对确认芯片的漏电情况,可以帮助确认  EMMI或Delayer等后续操作的方案,以便快速的找到异常位置----为FA电性分析第一步骤。

2.快速筛选大量IC在电性功能上的好与坏(良品与不良品)。

3.Open/Short Test,使用I/V curve trace测量,适用于客退品的分析,可以简单快速确认芯片状  态----是短路还是开路。











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