SAT(超声波扫描显微镜)

        超音波显微镜(SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的简称,又称为SAM (Scanning Acoustic Microscope)。此检测为应用超音波于不同密度材料之反射速率及能量不同的特性来进行分析。

原理: 利用纯水当介质传递超音波讯号,当讯号遇到不同材料的接口会时会部分反射及穿透部分穿透,机台接收这些讯号组成影像。

 检测模式:

          A-scan (超音波讯号) 
          B-scan (二维反射式剖面检测 / 影像) 
          C-scan (二维反射式平面检测 / 影像) 
          Through-scan (穿透式检测 / 影像)          

        

不同的样品其适用的检测探头不同,从低频15 Mhz至高频110 Mhz及更高阶的UHF超高频探头

探头应用 :                                                                                            

      15 Mhz – DIP , PLCC , TO, QFP
      35 Mhz – BGA , SOP8 , QFP , SOT223 , TO252                             
                

     50 Mhz – QFN , TQFP, DFN

      75 Mhz – TSSOP , Flash

     110 Mhz –Wafer , Flip chip
       
UHF – CMOS , WLCSP                                                                                                                                                                                                                                                      *以上探头应用皆为参考,还需依实际样品状况选择适当探头。

  

                                                                                                

                                                                                                                           

                                                                                                                                      










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